日本JEOL發表全新雷射電子顯微鏡 助攻半導體與電池研發

日本JEOL發表全新雷射電子顯微鏡 助攻半導體與電池研發

2026/05/26

圖文引用自:tw.news.yahoo.com

日本精密儀器大廠 JEOL 宣布將於 2026 年 5 月推出整合雷射加工技術的全新掃描式電子顯微鏡「LazEdge」。這款設備結合了濱松光子的專利技術,能在顯微鏡內部直接進行大面積高速切割,大幅提升半導體失效分析與電池研發的效率。

日本精密儀器領導廠商 JEOL 宣布開發出配備雷射加工系統的全新掃描式電子顯微鏡(SEM)「LazEdge」,預計於 2026 年 5 月正式上市。這款創新設備整合了濱松光子(Hamamatsu Photonics K.K.)的專利雷射技術,讓研究人員能直接在電子顯微鏡的樣品室內進行雷射加工,打破傳統分析流程的限制。

在科學研究與工業領域中,製備樣品截面通常依賴聚焦離子束(FIB)系統,但面對大面積加工時往往緩慢且耗時。LazEdge 透過獨家的光學系統,能對雷射光束進行空間相位調製,在樣品室內實現高速、大面積且高品質的截面切割,顯著縮短了從加工到觀察的作業時間。

為了確保儀器精密度,JEOL 研發了專利的「LazEdge Shield」屏蔽技術。這項技術能有效防止加工過程中產生的碎屑散射,避免污染探測器、鏡筒及樣品室內壁。…

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