理大研發量子隧穿場效應晶體管 突破集成電路晶片發展樽頸

理大物理及材料學系系主任郝建華教授(右)與該篇《Science》論文第一作者吳澤涵博士(左)展示採用脈衝激光沉積技術製作的二維鉍與硒化銦交替層異質結。

2026/08/31

圖文引用自:www.bastillepost.com

下一代微電子技術的運算能力能否提升,研發具突破性開關性能的晶體管成為關鍵。香港理工大學研究團隊近期運用二維(2D)納米材料,成功研製出一款新型量子隧穿場效應晶體管(TFET),有效破解傳統半導體技術中「波爾茲曼極限」的物理限制。這項成果不僅推動該技術走向商業化,更為低能耗運算及新一代人工智能(AI)晶片提供了核心組件。

這次研究由理大物理及材料學系系主任郝建華教授領導,並聯合新加坡國立大學、香港科技大學、北京大學及新加坡科技設計大學等多所院校專家共同完成。相關研究成果已於國際權威科學期刊《Science》正式發表。集成電路作為現代運算的基礎,其性能受限於晶體管的開關狀態切換,而傳統的互補金屬氧化物半導體場效應晶體管(MOSFET)受到物理極限阻礙,在室温下亞閾值擺幅無法降至每十倍 60 毫伏特以下,限制了高性能電子產品的演進。

郝建華教授指出,《國際器件及系統路線圖》已將 TFET 視作最具潛力取代 MOSFET 的低功耗方案。團隊研發的二維異質結構晶體管,透過量子隧穿機製取代傳統的熱電子發射,成功突破了調控電流所需的電壓界限,打破 MOSFET 的物理屏障。這項技術進步為未來 AI 晶片及先進半導體應用所追求的超低功耗、高性能集成電路奠定了堅實基礎。

為提升設計效率,團隊利用脈衝激光沉積(PLD)技術,精確製作出超薄的二維鉍(Bi)與硒化銦(InSe)交替層異質結。在納米結構的精準控制下,原本具備半金屬性質的鉍在二維形態中轉化為半導體,形成了理想的能帶對齊,促使電荷載流子能高效透過量子隧穿機制注入硒化銦之中。…

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